MAQUINA UNIVERSAL DE MEDICIÓN

Basada en un sistema óptico con amplificaciones de las lentes, permite tomar lecturas a través de tres microscopios micrométricos. Se auxilia de un comparador electrónico para su ajuste. Es un equipo de alta exactitud y con una gran gama de aplicaciones.

La lectura en milímetros se toma de una regla graduada, y la lectura de aproximación se toma de un microscopio al amplificar esta lectura, ayudado por un comparador electrónico, que sirve para alinear o ajustar la pieza por un lado y por el otro para que siempre actúe la misma presión del palpador sobre la pieza a medir. El palpador empleado es multidireccional y sufre una fuerza de palpación entre 100 y 400 g.

PROYECTOR DE PERFILES OPACOS

EL “PPO” O “COMPARADOR ÓPTICO” * Permite la medición de componentes sofisticados

(engranes, levas y otros artículos de difícil acceso a los instrumentos de medición convencionales).

* Es un instrumento de alta exactitud y versatilidad.

* La imagen aumentada de la pieza se proyecta en una pantalla, donde puede ser medida por medio de escalas o comparada con plantillas de referencia.

* La ventaja del empleo del método por comparación es su facilidad para poder observar a través de la plantilla mostrada en la pantalla cualquier desviación existente de la pieza amplificada y proyectada.

* Se trabaja sin contacto directo con la pieza a medir, por lo que el desgaste por fricción con la misma es nulo.

* Involucra elementos que constituyen un sistema óptico y otro mecánico.

MÉTODO DIASCÓPICO

Es cuando la iluminación se aplica por la parte inferior de la pieza, mostrando entonces únicamente el perfil de la misma y se le observa como una sombra. Es posible bajo este método medir exactamente las dimensiones delimitadas por el contorno de la pieza.

MÉTODO EPISCÓPICO

Se emplea para observar la superficie de las piezas opacas. En este caso la iluminación es aplicada por sobre la pieza a medir quedando en esta forma visibles los detalles que pueda tener la misma en su superficie.

MÉTODO EPI- DIASCÓPICO

Cuando incide sobre la pieza de iluminación, tanto inferior como superior, en forma simultanea. Bajo esta situación es posible realizar la inspección del contorno y superficie de la pieza simultáneamente.