mitutoyo BOLETIN MARZO 2010
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Boletín Técnico
Marzo 2010 No. 6
MICRÓMETROS Introducción Inventado en el siglo 18, el micrómetro inicialmente requería ser usado sobre una mesa. Con el tiempo, nuevos diseños permitieron hacerlos lo suficientemente compactos para que pudieran ser usados con una mano, proporcionando la exactitud requerida para muchas aplicaciones. El principio de operación es bastante simple, un tornillo que al ser girado dentro de una tuerca avanza o retrocede según el sentido de giro. Si estas dos partes son montadas en un lado de un arco y un tope en el otro, es posible medir partes introducidas entre el tope y el tornillo. Para tomar lecturas, un cilindro sobre el que se graba una línea de referencia y graduaciones que corresponden a un giro de 360° del tornillo (husillo), es fijado también al arco, cubriendo el tornillo y la tuerca, sobre el cilindro gira un tambor sujetado mediante un pequeño tornillo al husillo. El borde del tambor, permite leer los giros completos (avance de 0.5 mm) y sobre el perímetro del tambor se graban 50 graduaciones uniformemente distribuidas que representan 0.01 mm de avance del husillo cada una.
Con el paso del tiempo se agregaron el freno o aislantes térmicos en el arco, mecanismo (trinquete) para controlar la fuerza de medición, posibilidad de ajustar el cero y tuerca de ajuste para el juego entre tornillo y tuerca. Véase la Figura 1. Posteriormente surgieron los micrómetros digitales con contador y los digitales electrónicos estos últimos aunque siguen utilizando el principio básico descrito antes, incorporan codificadores rotatorios o lineales para poder detectar el desplazamiento del husillo y mostrarlo en una pantalla con resolución de 0.001 mm. Los micrómetros digitales electrónicos usualmente están provistos de algunas funciones que facilitan el proceso de medición y análisis de datos, tales como el poner a cero con solo oprimir una tecla, la posibilidad de obtener lecturas en milímetros o en pulgadas, mantener en pantalla un valor y la salida de datos a un procesador, un multiplexor o una PC.
Superficies de
medición
Husillo Cilindro exterior
Cilindro interior
Tuerca de ajuste
Arco Tope
Freno
Aislante de calor
Línea índice sobre el cilindro
Tambor Trinquete
CONTENIDO Micrómetros Página 1 La importancia del sistema de calibración Página 8 Formación integral de especialistas En medición Página 9
Mitutoyo Mexicana, S.A. de C.V. Oficinas de servicio: Naucalpan: [email protected] Monterrey: [email protected] Aguascalientes: [email protected] Querétaro: [email protected] Tijuana: [email protected] Colaboradores de este número Ing. José Ramón Zeleny Vázquez Ing. Hugo D. Labastida Jiménez Ing. Héctor Ceballos Contreras
Figura 1. Nombres de las partes de un micrómetro de exteriores
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‐Duración 8 horas‐Solo en instalaciones del usuario fecha y horario de común acuerdo ‐Costo $ 12850.00 más IVA más gastos de viaje desde la Ciudad de México. ‐Líneas y Símbolos, Proyecciones en el tercer cuadrante (sistema americano), Cortes y secciones, Vistas auxiliares, Tolerancias y ajustes Disponible también usando proyecciones en el primer cuadrante (sistema europeo).
Los micrómetros digitales electrónicos como el mostrado en la Figura 2, están diseñados de manera que no se permite la entrada de polvo a su interior y protección contra ingreso de líquidos refrigerantes o aceites solubles, de manera que pueden ser usados en lugares expuestos a este tipo de líquidos. El nivel de protección es indicado con las letras IP, seguidas de dos números que indican el nivel de protección, por ejemplo, 65. Existen en la actualidad una gran variedad de micrómetros para aplicaciones muy diversas, incluyendo variedad de tamaños y superficie de medición adapatables a diversas geometrías de piezas.
Para medición de diámetro dentro de ranura angosta
Para medición de diámetro interno pequeño y ancho de ranura ranura
Para medición de diámetro en perno nervado
Para medición de espesor de pared de tubo
Aplicaciones de Micrómetros para Propósito Especial
Micrómetro de cuchillas Micrómetro para interiores tipo calibrador
Micrómetro con puntas delgadas Micrómetro para tubos
Para medición de diámetro de raíz
Para medición de diámetro de paso de rosca externa
Para medición de cuerda sobre k dientes en engranes rectos y helicoidales
Para medición de herramientas de corte con 3 ó 5 puntas de corte
Micrómetro de puntas Micrómetro para roscas Micrómetro de exteriores con discos Micrómetro con tope en V
Superficies de medición
Husillo
Freno del husillo
Cilindro exterior Tambor
Trinquete
Tope Conector de salida (solo para el
tipo con salida de datos)
Tecla ZERO (INC)/ABS
Tecla HOLD (Mantener)
Tecla ORIGIN Aislante de calor
Arco
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Metrología Dimensional 1 (MD1) 19 y 20 Abril Naucalpan $ 4300 más IVA03 y 04 Marzo Tijuana
Metrología Dimensional 2 (MD2) 21, 22 y 23 Abril Naucalpan $ 6200 más IVA24, 25 y 26 Febrero Monterrey 04, 05 y 06 Mayo Tijuana
Calibración de Instrumentos (CIVGP) 26, 27 y 28 Abril Naucalpan $ 6600 más IVA17, 18 y 19 Marzo Monterrey
Control Estadístico del Proceso (CEP) 29 y 30 Abril Naucalpan $ 4400 más IVATolerancias Geométricas Norma ASME Y14.5-2009
03, 04 y 05 Mayo Naucalpan $ 7500 más IVA
Especificación y verificación geométrica de producto (VGP 1101)
07 Mayo Naucalpan $ 5100 más IVA
Incertidumbre en Metrología Dimensional
01, 02 y 03 Marzo Naucalpan $ 6200 más IVA17, 18, 19 Mayo naucalpan 28, 29 y 30 Abril Monterrey
Análisis de Sistemas de Medición (MSA)
04 y 05 de Marzo Naucalpan $ 4400 más IVA 20 y 21 Mayo Naucalpan 27 y 28 de Mayo Monterrey
Aplicación de ISO 17025 en Laboratorios de Calibración
08, 09 y 10 Marzo Naucalpan $ 6200 más IVA24, 25 y 26 Mayo Naucalpan
Verificación Geométrica de Producto con CMM
10 Marzo Naucalpan $ 2100 más IVA26 Mayo Naucalpan
Medición de Acabado Superficial para Verificación Geométrica de Producto
11 Marzo Naucalpan $ 2100 más IVA27 Mayo Naucalpan
Equipo Óptico y láser para Verificación Geométrica de Producto sin contacto
12 Marzo Naucalpan $ 2100 más IVA28 de mayo Naucalpan
Informes e inscripciones: [email protected] Tel: (0155) 5312 5612 www.mitutoyo.com.mx
PRÓXIMOS CURSOS INSTITUTO DE METROLOGÍA MITUTOYO
Micrómetro con escala vernier (graduación: 0.001 mm)La escala vernier provista arriba de la línea índice del cilindro permite lecturas directas a ser hechas dentro de 0.001 mm
Lectura del cilindro 6 mm Lectura del tambor + 0 .21 mm Lectura desde la línea de escala vernier coincidente con la línea del tambor 0 .003 mm Lectura del micrómetro 6.213 mm
Como Leer la Escala Micrómetro con escala estándar (graduación: 0.01 mm)
La escala puede ser leída directamente a 0.01 mm, como es mostrado arriba, pero puede también ser estimada a 0.001 mm cuando las líneas están cerca de coincidir dado que el espesor de la línea es 1/5 del espaciado entre ellas.
Aprox. +1 µm Aprox. +2 µm
Línea índice del cilindro Línea de graduación
del tambor
Línea índice del cilindro
Línea de graduación del tambor
Lectura del cilindro 7 mm Lectura del tambor + 0.37 mm Lectura del micrómetro 7.37 mm
Micrómetro con Lectura Digital (resolución: 0.001 mm)
Tercer lugar decimal en la escala vernier (0.001 mm)
0.01 Lectura vernier 0.004 mm Línea índice
Tercer lugar decimal 0 .004 mm Segundo lugar decimal 0.09 mm Primer lugar decimal 0.9 mm Milímetros 2 mm + Decenas de milímetro 00. mm Lectura del contador 2.994 mm
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Nuevo servicio de calibración de patrones de rugosidad y medición de rugosidad El laboratorio de calibración de Mitutoyo Mexicana, S.A. de C.V. ha instalado un equipo de medición de rugosidad para proporcionar a sus clientes usuarios servicio de calibración de patrones de rugosidad, así como, servicio de medición de rugosidad, ambos acreditados. De acuerdo con los requerimientos actuales de los sistemas de gestión de calidad, todos los equipos y patrones de medición, deben ser calibrados periódicamente y antes de usarlos cuando son nuevos. En muchos casos, los equipos de medición de rugosidad son calibrados de acuerdo con lo anterior, sin embargo, no ocurre lo mismo con los patrones. Los patrones de rugosidad son utilizados para determinar si, en un momento dado, es necesario ajustar la ganancia de los equipos, para verificaciones periódicas de los mismos y para la calibración de los rugosímetros. El servicio, ya esta disponible con ACREDITACIÓN a los patrones nacionales de longitud correspondientes.
SERVICIO DE MEDICIÓN
Mitutoyo Mexicana, S.A. de C.V. a través de su departamento de ingeniería de servicio tiene disponible servicio de medición de piezas, para lo cual cuenta con variedad de equipo, tal como Máquinas de Medición por Coordenadas (CMM), equipo de medición por visión (QV, QS, QI), máquina de medición de redondez y otras características geométricas, equipo de medición de contorno (perfil), máquinas de medición de dureza, equipo de medición de rugosidad, comparadores ópticos y microscopios, lo cual permite una gran variedad de opciones para resolver eficientemente cualquier tipo de medición dimensional.
3 equipos 10% 6 equipos 15% Más de 6 equipos 20%
PAQUETES DE CALIBRACIÓN
Incluye 20% de descuento en refacciones y en servicio de reparación durante la vigencia del contrato
Condiciones sujetas a cambio sin previo aviso
Uso de software de inspección original de Mitutoyo
Prioridad en programación
Sin gastos de viaje dentro de un radio de 50 km desde nuestros centros de servicio Se requiere dibujo o modelo
CAD o instrucciones detalladas de, que es lo que se desea medir para obtener una cotización y acordar tiempo de entrega. Este servicio se ofrece con trazabilidad a patrones nacionales de longitud. Se entrega reporte de medición.
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Potencial error de lectura debido al paralaje Cuando una escala y su línea índice no se encuentran en el mismo plano, es posible cometer un error de lectura debido al paralaje, como es mostrado abajo. Las direcciones de visión (a) y (c) producirán este error, mientras que la lectura correcta es la vista desde la dirección (b)
Forma detallada de las superficies de medición
Punta de carburo
Hus
illo
Ø6.
35
Hus
illo
Ø8
Tambor Cilindro
Longitud nominal (mm)
Dife
renc
ia e
n ex
pans
ión µm
Trinquete
Tambor de fricción
Operación audible
Operación con una mano
Si
No
Si
Si
Inadecuada
Adecuada
Adecuada
Adecuada
Observaciones
Clics audibles la operación causa microchoques
Operación suave sin choques o sonidos
Operación audible proporciona confirmación de la fuerza
constante de medición
Operación audible proporciona confirmación de la fuerza
constante de medición
Tambor con trinquete
Tambor con trinquete
(Tipo F)
(Tipo T)
Dispositivos de fuerza constante
Estos dibujos son usados solo para explicar la forma pero no están a escala
Diferencia en expansión térmica entre micrómetro y barra para fijado del cero
Calibración de anillos patrón de 6 a 120 mm con máquina que incorpora una holo escala láser con resolución de 0,1 µm y repetibilidad de 0,2 µm SERVICIOS ACREDITADOS
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Punto de soporte
Soportado en la base y en el centro
Soportado solo en el centro
Postura Máxima longitud de medición (mm)
325 0 -5.5 425 0 -2.5 525 0 -5.5 625 0 -11.0 725 0 -9.5 825 0 -18.0 925 0 -22.5 1025 0 -26.0
Punto de soporte
Soportado en el centro en una orientación lateral
Soportado con la mano hacia abajo
Postura Máxima longitud de medición (mm)
325 +1.5 -4.5 425 +2.0 -10.5 525 -4.5 -10.0 625 0 -5.5 725 -9.5 -19.0 825 -5.0 -35.0 925 -14.0 -27.0 1025 -5.0 -40.0
Principio de Abbe
Dado que el valor de medición es cambiado dependiendo del punto de soporte y la longitud máxima de medición, se recomienda que se use el instrumento realizando el ajuste del punto cero con la misma orientación que será usado en la práctica.
Expansión de la Barra de Ajuste con el Cambio de Temperatura
Intervalo de tiempo (minutos)
Exp
ansi
ón té
rmic
a (µ
m)
La gráfica de arriba muestra el cambio en tamaño de una barra para ajuste del cero cuando es mantenida en la palma de la mano a temperaturas de 21°C, 27°C y 31°C.
Error de medición dependiendo de la orientación y punto de soporte (unidad µm)
El principio de Abbe establece que la exactitud máxima es obtenida cuando los ejes de la escala y de medición son comunes. Esto es debido a que cualquier variación en el ángulo relativo (q) de la punta de medición de un instrumento, tal como la de un micrómetro tipo calibrador causa desplazamiento que no es medido sobre la escala del instrumento y esto es un error de Abbe (e = l-L en el diagrama). El error de rectitud del husillo juego en la guía del husillo o variación de la fuerza de medición pueden causar que q varie y el error se incrementa conforme lo hace R
Curso de Tolerancias Geométricas (GD&T) basado en la nueva
norma ASME Y14-5-2009
Después de 15 años, la norma ASME sobre dimensionado y tolerado fué actualizada, incluyendo diversas mejoras entre las que destacan, la diferenciación de los modificadores de la condición de material cuando es aplicada a la tolerancia o a los datos, llamando a esto último frontera de máximo o mínimo material. Se introducen algunos símbolos nuevos incluyendo el de perfil desigualmente dispuesto y la aplicación de una zona de tolerancia no uniforme. Se usa el concepto de grados de libertad con relación al establecimiento de marcos de referencia dato. Se permite la aplicación de marcos de referencia dato personalizados y datos movibles. Se introduce el concepto de sistema coordenado con relación al marco de referencia dato. Se permite usar más segmentos en los marcos de control de elemento compuestos. Todo el material fué reacomodado en 9 secciones en vez de las 6 de la versión anterior. Para saber más: capacitació[email protected]
Ley de Hooke La ley de Hooke establece que la deformación en un material elástico es proporcional al esfuerzo causando la deformación, considerando que la deformación permanece dentro del límite elástico para ese material.
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NOMBRE DEL CURSO M3SC Naucalpan M3SC Monterrey M3SC Tijuana COSTO
GEOPAK-WIN V 3.0 Abril 12, 13 y 14 Abril 19, 20 y 21 Abril 26, 27 y 28 $ 7500.00 más IVA
SCANPAK Abril 15 Abril 22 Abril 29 $ 2500.00 más IVA CMM SOFTWARE
CAT100 PS Abril 16 Abril 23 Abril 30 $ 2500.00 más IVA
QVPAK V 7.0 Mayo 03, 04 y 05 Mayo 10, 11 y 12 Mayo 17, 18 y 19 $ 7500.00 más IVA VISION SOFTWARE
QSPAK V 7.0 Mayo 06 y 07 Mayo 13 y 14 Mayo 20 y 21 $ 5000.00 más IVA
FORMPAK-1000 Junio 07 y 08 Junio 14 y 15 $ 5000.00 más IVA
ROUNDPAK V 5.0 Junio 09 y 10 Junio 16 y 17 $ 5000.00 más IVA FORM SOFTWARE
SURFPAK Junio 11 Junio 18
$ 2500.00 más IVA
Método de los tres alambres para medición de roscas. El diámetro efectivo de una rosca puede ser medido usando tres alambres contactando la rosca como es mostrado abajo. El diámetro efectivo E puede ser calculado usando las formulas (1) ó (2). Para roscas métricas o unificadas (angulo de la rosca de 60°) E = M – 3d + 0.866025P ……. (1) Para roscas Witworth (ángulo de la rosca de 55°) E = M – 3.16568d + 0.960491P ….. (2) Donde, P: Paso de la rosca (para roscas unificadas un paso en pulgadas es convertido a su equivalente métrico) D: Diámetro promedio de los tres alambres E: Diámetro efectivo de la rosca M: Medición sobre los tres alambres
Leyendo la paralela óptica en la dirección sobre el lado del husillo
Paralela óptica Franjas sobre el lado del husillo
Plano óptico Plano óptico
Tope Tope
Dirección de lectura de las franjas de interferencia
La cara de medición esta curvada por aproximadamente 1.3 µm (0.32 µm x 4 pares de franjas rojas)
La cara de medición está concava (o convexa) por aproximadamente 0.6 µm de profundidad (0.32 µm x 2 franjas continuas)
Fórmula de Hertz
Husillo
Tope
Las fórmulas de Hertz dan la reducción aparente en diámetro de esferas y cilindros debido a la compresión elástica cuando se mide entre superficies planas. Estas fórmulas son útiles para determinar la deformación de una pieza causada por la fuerza de medición en situaciones de contacto en un punto y una línea.
Asumiendo que el material es acero y las unidades son como sigue: Módulo de elasticidad E = 196GPa Cantidad de deformació: d (mm) Diámetro de la esfera o cilindro: D (mm) Longitud del cilindro: L (mm) Fuerza de medición: P (N)
a) Reducción aparente en el diámetro de la esfera
3 /82.01 DP=δ b) Redución aparente en el diámetro del cilindro
3 /1/094.02 DLP=δ
Diámetro efectivo en medición de roscas
Verificación de la planitud de las superficies de medición de micrómetros
Verificación del paralelismo de las superficies de medición de micrómetros
El paralelismo puede ser estimado usando paralelas ópticas entre las superficies de medición del micrómetro.
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La certificación de sistemas de calidad bajo normas tales como ISO 9000 e ISO/TS 16949, incluye la necesidad de establecer un sistema de calibración que opere eficientemente de acuerdo a las necesidades específicas de cada compañía. Enfocándose en la necesidad de contar con trazabilidad en las calibraciones realizadas internamente o adquiridas externamente.
ISO 9000, con el propósito de incluir cada vez mayor variedad de compañías que puedan certificarse, ha ido diluyendo los requerimientos en lo que a calibración de equipo se requiere, esto puede verse si se compara el 4.11 de ISO 9000-1994 con el 7.6 de ISO 9000-2000 y el actual 7.6 de ISO 9000-2008, en el que la referencia a ISO 10012 (Sistemas de gestión de las mediciones - Requisitos para los procesos de medición y los equipos de medición) ha sido eliminada. La razón es clara, muchas compañías de servicio, por ejemplo, no utilizan instrumentos de medición como lo hace una planta de manufactura. Para la industria automotriz el requerimiento establecido en ISO/TS 16949 de usar ISO 17025 puede servir de guía a otras empresas. ISO 9000-2008 no requiere el uso de laboratorios acreditados ni usar ISO 17025 pero podría ser conveniente incluir estos puntos en la documentación del sistema de gestión de calidad de cada compañía. Solo seguir las mejores prácticas.
Para poder realizar calibraciones internas se deben tener: a) Los patrones requeridos calibrados
con trazabilidad a un patrón nacional o internacional.
b) Procedimientos de calibración documentados.
c) Personal técnico capacitado, calificado y autorizado.
d) Un sistema documentado para la gestión de las calibraciones y mediciones.
e) Requisitos para uso de servicios externos de calibración
f) Instalaciones apropiadas para mantener controladas las magnitudes de influencia, tal como la temperatura.
Todos los instrumentos y patrones deben ser calibrados antes de usarse y luego periódicamente. Esto junto con un programa adecuado de verificaciones intermedias, asegura la confiabilidad de las calibraciones y mediciones realizadas con ellos.
La operación de un sistema decalibración indudablemente cuesta,sin embargo, resulta muchísimo máscostoso si se llegan a hacermediciones erróneas. La realizaciónde calibraciones internas normalmente tiene como propósito ahorrar en el pago de servicios externos, sin embargo, debe tenerse presente, que las calibraciones internas, tienen que ser realizadas de una manera técnica aceptable. Es siempre necesario establecer un equilibrio apropiado entre las calibraciones internas y las externas. En la mayoría de los casos la calibración de patrones utilizados para calibraciones internas debe ser realizada externamente.
Las calibraciones externas, deben ser realizadas por laboratorios acreditados o fabricantes de equipo (ISO/TS 16949) o en caso de patrones de alta exactitud por un Instituto Nacional de Metrología, tal como, el Centro Nacional de Metrología (CENAM) en el caso de México.
Establecer y respetar intervalos de calibración apropiados, es de vital importancia para mantener la integridad del sistema de calibración. Periodos más largos, disminuyen el costo, pera aumentan el riesgo de mediciones mal hechas.
La trazabilidad actualmente, puededemostrarse a través de certificadosde calibración, emitidos porlaboratorios acreditados en otro paíspor la entidad acreditadora de esepaís que este incluida en losacuerdos de reconocimiento mutuo(MRA) de organizaciones internacionales o regionales talcomo ILAC (Internacional LaboratoryAccreditation Cooperation) o APLAC(Asia Pacific Laboratory Accreditation Cooperation). Especialmente útil cuando se adquiere equipo nuevo de otro país.
La elaboración de procedimientos detallados de calibración, es una parte muy importante, ya que deben estar basados en normas o documentos técnicos relevantes que aseguren que se hacen las calibraciones adecuadamente, contemplando el uso de patrones apropiados; escritos con suficiente claridad e incluir dibujos o fotografías que faci l i ten el entendimiento de cómo deben ser hechas las cosas por el personal llevando a cabo las calibraciones para que satisfagan en la medida de lo posible los requisitos de la parte 5 de ISO 17025.
El sistema de gestión de calidad del laboratorio, preferentemente, debe estar basado en la parte 4 de ISO 17025, que cumple los principios de ISO 9001. Si se quisieran acreditar las actividades de calibración interna es recomendable hacer un manual de gestión de calidad específico para estas actividades, que esté alineado con el manual general de gestión de cal idad que cubre todas las actividades de la compañía.
Las condiciones ambientales requeridas para calibración son más estrictas que para medición, dado que implica trabajo de mayor exactitud. La temperatura recomendada para calibración de instrumentos para medición de longitud es 20°C ±1°C.
El personal que lleva a cabo calibraciones, debe ser capacitado adecuadamente en las normas aquí mencionadas y en las normas técnicas aplicables a los trabajos de calibración a realizar.
La acreditación de los laboratorios decalibración y ensayo, ha incrementadosu importancia a través del tiempo.Actualmente, se da a los laboratoriosque demuestran cumplir Satisfactoriamente los requisitos que se especifican en la norma ISO/IEC 17025: 2005.
A través de nuestro curso de Calibración de Instrumentos para Verificación Geométrica de Producto, conocerá más acerca de este tema. Solicite informes. [email protected]
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Actualmente el Instituto de Metrología Mitutoyo México, ofrece 13 diferentes cursos con el título genérico de Verificación Geométrica de Producto (VGP) con duración entre 8, 16 ó 24 h, totalizando 216 h. Adicionalmente, se ofrecen cursos de capacitación sobre software de medición específico. Frecuentemente, una misma persona toma varios cursos dentro de un año y desearía un reconocimiento más amplio de los conocimientos adquiridos y considerando que una formación de más horas tiene mayor aceptación se ha ideado un esquema en el que se otorgan diplomas en base al número de horas de capacitación recibidas como sigue: Entre 8 y 40 h de capacitación recibida Diplomas normales para cada curso tomado. Más de 40 h y hasta 80 h de capacitación recibida se otorga diploma Plata, indicando el total de horas recibidas (a cambio de los diplomas parciales) indicando en la parte posterior los temas cubiertos durante las horas mencionadas en el frente. Más de 80 h de capacitación recibida se otorga diploma Oro, indicando el total de horas recibidas (a cambio de los diplomas parciales) indicando en la parte posterior los temas cubiertos durante las horas mencionadas en el frente. Además de los diplomas se otorga descuento en base a las horas acumuladas, como se ejemplifica a continuación: Curso inicial 16 h precio normal (horas acumuladas 16) Segundo curso 24 h 1.6 % de descuento (horas acumuladas 40) Tercer curso 16 h 4.0 % de descuento (horas acumuladas 56) Cuarto curso 24 h 5.6% de descuento (horas acumuladas 80) Quinto curso 8 h 8.0 % de descuento (horas acumuladas 88) Máximo descuento posible 20% (cuando se hayan acumulado 200 h)
No se tiene necesidad de tomar todos los cursos o en un orden determinado cada curso puede ser seleccionado por el participante en base a las necesidades de capacitación detectadas. Existen ciertos cursos relacionados, por ejemplo para alguien que empieza a trabajar en Metrología los cursos de Metrología Dimensional 1 y 2 serían recomendables, seguido de los de calibración, incertidumbre en metrología Dimensional y aplicación de ISO 17025 en laboratorios de calibración. Otro ejemplo son los de contenido estadístico como control estadístico del proceso, Análisis de sistemas de medición e incertidumbre en Metrología Dimensional. Un grupo más lo constituyen el curso de Tolerancias Geométricas (norma ASME Y14.5-2009), Especificación Geométrica de Producto (ISO 1101), Medición de tolerancias Geométricas con CMM y fundamentos de medición con CMM (Máquina de Medición por Coordenadas). Existen otros aislados pero importantes como Verificación Geométrica de Producto con equipo óptico y medición del acabado superficial. Las primeras horas de capacitación (hasta 40) pueden ser consideradas como el requisito mínimo para una persona que empieza a trabajar en actividades relacionadas con la metrología. Al incrementar las horas de capacitación (hasta 80) se convierte en un Metrólogo competente. Cuando completa 120 h puede considerarse como un especialista en Metrología Dimensional y más de 160 horas, un Metrólogo con preparación excelente. Lo anterior reforzado por cursos de operación de equipo de medición con software especifico según sea necesario. Formación de especialistas a través de instructores profesionales,
basado en textos especialmente desarrollados combinados con prácticas usando equipo de medición. Un metrólogo profesional se forma haciendo mediciones con equipo pero necesita comprender lo que hace, como se calibran los equipos, que dicen las normas relacionadas etc. para lograr una formación integral. La metrología como muchas otras cosas, está siempre en continua evolución, haciéndose necesario medir cada vez con mayor exactitud, lo que requiere un mayor conocimiento de los factores que deben ser considerados para obtener mediciones de calidad. Debe entenderse claramente la especificación antes de iniciar el proceso de medición, deben desarrollarse las estrategias de medición apropiadas (por ejemplo, número y localización de puntos a medir) y los resultados deben ser reportados de manera completa en una manera fácil de interpretar por personas diferentes a las que hicieron las mediciones. La medición de forma y acabado superficial se han hecho tanto o más importantes que la medición de tamaño, haciendo necesario medir con diferentes equipos una misma pieza. También con la miniaturización de partes en la industria electrónica y otras se ha hecho cada vez más común el uso de equipo óptico para medición de piezas. Todo lo anterior conduce a la necesidad de formación profesional e integral de especialistas en medición, capaces de entender y aplicar apropiadamente las diferentes tecnologías de medición, en muchos casos se obtienen con facilidad una gran cantidad de datos que solo una persona bien preparada puede interpretar adecuadamente.