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MICROSCOPIO ELECTRONICO DE BARRIDO

Es un instrumento que permite la observacin y caracterizacin superficial de materiales inorgnicos y orgnicos, entregando informacin morfolgica del material analizado.El Microscopio electrnico de barrido , utiliza un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen ampliada de la superficie de un objeto. A partir de l se producen distintos tipos de seal que se generan desde la muestra y se utilizan para examinar muchas de sus caractersticas.INTRODUCCIONLa observacin de objetos pequeos siempre ha estado entre los mayores desafos encarados por el hombre A fines del Siglo XIX Abbe realizo trabajos mediante la iluminacin con ondas electromagnticasJ.J. Thomson descubri los electrones. En el ao 1924 D`Broglie sacude los cimientos del conocimiento de su poca al enunciar el carcter ondulatorio de los electrones En el ao 1926 Busch presenta el diseo de una lente electromagnticaE.Ruska y M. Knoll en 1933 inventaron el microscopio electrnico de transmisin Para en el ao 1938 Manfred von Ardenne introduce el Microscopio Electrnico de Barrido-Transmisin (MEBT).En el ao 1942 Zworykin, Hillier y Zinder disearon un microscopio con el cual se observan directamente superficies de muestras metlicas, y publicaron las primera s micrografas electrnicas de barridoEn 1948, bajo un proyecto dirigido por C.W. Oatley, McMullan desarrolla una columna muy eficaz basada en lentes electromagnticas, logra una fuente estable de alto voltaje para alimentar el filamento e introduce el Tubo de Rayos Catdicos (TRC) como sistema de registro y observacin de las imgenes.En el ao 1956 ocurre otro avance importante cuando K.C.A. Smith introduce el procesamiento no lineal de las seales En el ao 1986 surge la Microscopa Electrnica de Barrido controlada mediante computadora.

HISTORIAMedia y alta resolucin hasta 200,000 X de magnificacin y 1 nm de resolucin.Anlisis elemental por EDS (Espectroscopia de Energa Dispersivase pueden identificar elementos desde el carbono hasta el einstenio (80 aprox.)Determinacin elemental de contaminantes en materiales slidos (cermicos, metlicos, polmeros, dispositivos electrnicos, recubrimientos, etc.).Determinacin de textura en materiales cristalinos (se requiere conocer la cristalografa del material a analizar y una preparacin especial).Estudio de interfase en materiales, valoracin del deterioro de materiales.Comparacin morfolgica y de composicin qumica de materias primas, materiales, productos finales, etc.

CARACTERISTICASPARTES

Can de electrones, que emite el haz de electronesUn portamuestra, con distintos grados de movimientos.Lentes magnticas para crear campos que dirigen y enfocan el haz de electrones.Sistema de vaco es una parte muy importante del microscopio electrnico. Debido a que los electrones pueden ser desviados por las molculas del aire.Una unidad de deteccin de las seales que se originan en la muestra, seguida de un sistema de amplificacin adecuado.Un sistema de procesamiento de la imagen con ayuda computacional: Sistema de registro que muestra la imagen que producen los electronesUn sistema de registro fotogrfico, magntico o de video.

*Limpieza: Remocin de contaminantes de la muestra.*Fijacin: Permitir que cese la actividad biolgica de la clula y preservar la estructura celular. Mantener la integridad de la superficie.*Recubrimiento con oro (sputter): *Elemento: Oro, paladio o carbono. Permitir que haz de electrones primarios choquen contra la muestra recubierta con un material conductor para que estas sean elctricamente conductivas.

PREPARACION DE LA MUESTRA

Las aplicaciones delMicroscopio electrnico de barrido son muy variadas. Sus anlisis proporcionan datos como textura, tamao y forma de la muestra. Entre las reas de aplicacin de esta tcnica, se pueden mencionar:Geologa: Investigaciones Geomineras, cristalogrficas y mineralgicas .Estudio de materiales: Caracterizacin micro estructural de materiales.. Composicin de superficies y tamao. Identificacin del tipo de degradacin.Metalurgia: Control de calidad y caractersticas texturales. Anlisis de fractura en materiales.Odontologa: Estudio de la direccionalidad de las varillas del esmalte dental. Adems se pueden analizar las alteraciones que producen los cidos producidos por la entrada de microorganismos y restos alimenticios

PRINCIPALES APLICACIONESPaleontologa y Arqueologa: Caracterizacin de aspectos morfolgicos.Control de Calidad: En este campo, es de gran utilidad para el seguimiento morfolgico de procesos y su aplicacin en el control de calidad de productos de uso y consumo. Fibras: Se utiliza para examinar: Detalles superficiales de fibras. Modificaciones en las formas. Daado de fibras. Construccin de hilos y tejidos. Dimensiones desde diferentes ngulos.Medicina Forense: Anlisis morfolgico de pruebas.Peritaciones Caligrficas: Estudio qumico y estructural de obras de arte, alteracin de monumentos, control de calidad, identificacin de pigmentos.Electrnica: Control y calidad de partes electrnicas.

Las principales son: la alta resolucin (1 nm), la gran profundidad de campo que le da apariencia tridimensional a las imgenes y la sencilla preparacin de las muestras.

VENTAJAS DESVENTAJASNo da informacin acerca de viabilidad cell.

Costos

Destruccin de la muestraMICROSCOPIO ELECTRONICO DE BARRIDO DE SOBREMESA

Este es un nuevo modelo de microscopio de escritorio que proporciona aumentoscon un excelente contraste del materialy profundidad defoco.Existen dos modelos actuales:

DESCRIPCIONEl modelo PRO es el ms profesional del mercado.Este sistema integra plataforma dual ptica-electrnica de gran aumento - hasta100,000X y con portamuestras especiales intercambiables para muestrasgrandes, pequeas, con calentamiento, etc

Con el modelo de sobremesa ProX, podemos examinar fsicamente las estructuras de la muestra y la determinacin de su composicin elemental y tambin podemos escanear motorizadamente muestras de hasta 100mm x 100mm.

Gran poder de resolucin Costo notablemente reducidoPortabilidad (espacio reducido)VENTAJAS

GRACIAS