El microscopio electrnico de barrido SEM permite generar imgenes de una superficie, con una resolucin alta y una apariencia tridimensional dentro de un intervalo amplio de aumentos lo cual facilita el estudio topogrfico de una fractura, de modo que se pueden determinar los mecanismos microscpicos de fractura, como son tpicamente los de clivaje en una fractura frgil, de generacin y coalescencia de micro vacos en una fractura dctil y estras de fatiga en una fractura por fatiga.Otra funcin importante del SEM es que permite realizar microanlisis para determinar la presencia cualitativa y/o cuantitativa de elementos en detalles microscpicos, como es el caso de inclusiones y precipitados en aceros u otras aleaciones.PRINCIPIOS DE OPERACIN DEL SEMEn el microscopio electrnico de barrido se construyen imgenes y contraste aprovechando la emisin de electrones (electrones secundarios) de una muestra, cuando sobre ella incide un haz enfocado de electrones de alta energa. La muestra tambin emite rayos X, los cuales pueden ser analizados para obtener informacin sobre la composicin del material. Cada seal obtenida del SEM es captada por un detector apropiado.

Los electrones emitidos por la interaccin del haz incidente y la muestra son colectados por los correspondientes detectores para producir una seal elctrica, la cual se utiliza para modular la intensidad de un haz de electrones que incide en la pantalla de un tubo de rayos catdicos TCR, de manera que mediante un barrido sincronizado del haz incidente en la superficie de una muestra y del haz incidente en la pantalla del TRC, se produce en sta una imagen de la muestra. La emisin de electrones y de rayos X de la muestra se origina por las colisiones de electrones del haz incidente con electrones de los tomos del material de la probeta.

Algunas colisiones son elsticas de modo que algunos electrones del haz primario pueden salir de la superficie de la muestra sin una significativa prdida de energa, estos son los llamados electrones reflejados. Pero la mayora de las colisiones son inelsticas y, entre otros efectos, originan emisin de electrones de baja energa conocidos como electrones secundarios. Uno de los usos ms comunes del SEM es el estudio topogrfico de las superficies, para lo cual se usan los electrones secundarios como seal debido a que su emisin vara significativamente con la inclinacin local de una superficie con respecto al haz incidente, lo que permite crear contraste topogrfico en la pantalla del TRC.COMPONENTES BSICOS DEL SEM1. Can de electrones que produce un haz con energa entre 5 keV y 30 keV con un dimetro efectivo entre 0.1um y 10 um.2. Lentes electromagnticas condensadoras que reducen el dimetro del haz, de manera que en la superficie de la muestra se tiene un dimetro apropiado al aumento de la imagen.3. Apertura final la cual controla la divergencia del haz incidente en la muestra.4. Una lente objetivo que enfoca el haz en la superficie de la muestra.5. Sistema de barrido, el cual permite la construccin de la imagen en la pantalla del TRC por el barrido del haz en la superficie de la muestra,6. Detectores de seales emitidas por la muestra (electrones secundarios, electrones reflejados, rayos, rayos X, etc.)7. Tubo de rayos catdicos para presentacin de la imagen.CARACTERSTICAS PRINCIPALES DE IMGENES OBTENIDAS EN EL SEMPara producir una imagen en la pantalla del TRC es necesario que el haz de electrones en la columna del microscopio barra la superficie de estudio sincronizadamente con el barrido del haz en el TRC, de manera que la informacin proveniente de cualquier punto de la muestra se produzca en la misma posicin relativa en la pantalla, as se construye la superficie de una muestra punto por punto.